集電極掃描信號
輸出電壓范圍及電流容量
| 0～5V | 10A（XJ4810A） |
| 0～10V | 5A |
| 0～50V | 1A |
| 0～100V | 0.5A |
| 0～500V | 0.1A |
基極階梯信號
| 階梯電流 | 0.2μA/級～50mA/級，分17檔(XJ4810) |
| 0.2μA/級～100mA/級，分18檔(XJ4810A) | |
| 階梯電壓 | 0.05V級～1V/級，分5檔(XJ4810) |
| 0.1V級～2V/級，分5檔(XJ4810A) |
Y軸偏轉系數
| 集電極電流 | 10μA/div～0.5A/div，分15檔(XJ4810) |
| 10μA/div～1A/div，分16檔(XJ4810A) | |
| 二極管電流 | 0.2μA/div～5μA/div，分5檔 |
| 倍率 | ×0.1 |
X軸偏轉系數
| 集電極電壓 | 0.05V/div～50V/div，分10檔 |
| 基極電壓 | 0.05V/div～1V/div，分5檔 |
XJ-4810型半導體特性圖示儀，是一種用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線，并可測量其靜態參數的測試儀器。
1.1 本儀器主要由以下幾個部分組成：
1.1.1 Y軸放大器及X軸放大器。
1.1.2 階梯信號發生器
1.1.3 集電極掃描發生器
1.1.4 主電源及高壓電源部分
1.2 本儀器是繼JT-1后的開發產品，它除了繼承JT-1的優點外，作了較大改進與提 高，它與其他半導體管特性圖示儀相比，具有以下特點：
1.2.1 本儀器采用全晶體管化電路、尺寸小、重量輕。
1.2.2 增設集電極雙向掃描電路及裝置，能同時觀察二極管的正反向輸出特性曲線、簡化測試手續。
1.2.3 配有雙簇曲線顯示電路，對于中小功率晶體管各種參數的配對，尤為方便。
1.2.4 本儀器專為工作于小電流超b晶體管測試作了提高，最小階梯電流可達0.2μA/級
1.2.5 本儀器還專為測試二極管的反向漏電流采取了適當措施，使測試的IR達20nA/div。
1.2.6 本儀器配上它的擴展裝置—XJ27100場效應管配對測試臺可對國內外各種場效應對管和單管進行比較測試。
1.2.7 本儀器配上它的擴展裝置—XJ27101數字集成電路電壓傳輸特性測試臺，可測試CMOS，TTL數字集成電路的電壓傳輸特性。
主要技術指標
2.1 Y軸偏轉因數
集電極電流范圍（Ic）10μA/div-0.5A/div 分15檔，誤差不超過±3%。
二極管反向漏電流（IR）0.2μA/div-5μA/div 分5檔。
2μA/div-5μA/div 誤差不超過±3%。
0.2μA/div、0.5μA/div、1μA/div 誤差分別不超過±20%、±10、±5%
基極電流或基極源電壓 0.05V/div 誤差不超過±3%。
外接輸入 0.05V/div 誤差不超過±3%。
偏轉倍率 ×0.1 誤差不超過±（10%+10nA）。
2.2 X軸偏轉因數
集電極電壓范圍 0.05V/div—50V/div 分10檔 誤差不超過±3%。
基極電壓范圍 0.05V/div—1V/div 分5檔 誤差不超過±3%。
基極電流或基極源電壓 0.05V/div 誤差不超過±3%。
外接輸入 0.05V/div 誤差不超過±3%。
2.3階梯信號
階梯電流范圍： 0.2μA/級-50mA/級 分17檔
1μA/級-50mA/級 誤差不超過±5%。
0.2μA/級、0.5μA/級 誤差不超過±7%。
階梯電壓范圍： 0.05V/級-1V/級 分5檔 誤差不超過±5%。
串聯電阻： 0、10KΩ、1MΩ 分3檔 誤差不超過±5%
每簇級數； 1—10連續可調
每秒級數： 200
極性： 正、負 分2檔
2.4 集電極掃描信號
峰值電壓與峰值電流容量：各檔級電壓連續可調，其最大輸出不低于下表要求（AC例外）
檔級 198V 220V 242V
0—10V 檔
0—9V 5A
0—10V 5A
0—11V 5A
0—50V 檔
0—45V 1A
0—50V 1A
0—55V 1A
0—100V 檔
0—90V 0.5A
0—100V 0.5A
0—110V 0.5A
0—500V 檔
0—450V 0.1A
0—500V 0.1A
0—550V 0.1A
功耗限制電阻0—0.5MΩ分11檔，誤差不超過±10%
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